CTI9888拉斯维加斯检测提供完整的芯片产品老化寿命试验项目，包括手艺整合咨询、实验设计妄想、硬件设计制作、可靠性试验、寿命预估等一站式服务，协助客户通过JEDEC、MIL—STD、AEC-Q等可靠性国际试验标准。
半导体产品是电子工业的焦点，而其可靠度试验的要害项目在针对芯片老化寿命，实验项目最普遍是以JEDEC 47或MIL-STD 883为基础举行。凭证JEDEC 47的建议，样品的取得是必需三个非一连生产批次，以模拟生产的稳固度，并可参考Family看法适度镌汰实验项目与样品数。
大都的老化寿命试验，必需透过老化板作为测试机台与芯片的接口。老化板是整个试验的焦点，必需确保其稳固性，阻止衍生特殊问题。
? 芯片老化寿命试验
1.检测项目
我们提供的测试项目一共分为3小点
1).高/低温寿命试验
芯片透过高/低温寿命试验，以仿真在差别温度下的加速老化状态，常用的加速因子有电压、电流、温度与湿度等项目。崎岖温寿命试验的温度规格是参考芯片的结温(Tj，Junction Temperature)，高温一样平常消耗型与工规产品使用125℃，低温则使用50℃。寿命试验的测试时间以1000小时为基础，现实的测试时间必需凭证客户产品保固期，使用寿命公式举行推估。寿命试验属于动态试验，除了上述的加速因子外，通�；崾淙胩囟ǖ某绦�，在动态的情形中确保芯片无任何的异常超标征象，以更贴近客户使用的情形。下图为老化测试装备的架构图。
2).早夭失效率试验
早夭失效率的试验目的针对特定或特殊产品，例如车用产品，举行一个放大宗的视察。早夭失效率试验的另一个主要目的在针对产品举行出货后的使用寿命举行估算，以确保产品稳固度以及需要准备几多的备品作为后续RMA之用。实验的条件与现实寿命试验相同，但测试时间较短，且测试后无异常之产品可以出货。
3).高温贮存寿命试验
4).非挥发性内存寿命试验
5).老化板硬件设计与制作
老化板的设计制作是整个寿命试验的要害。差别的产品种别与应用，衍生的频率、传输速率、讯号完整度、发热征象、阻抗匹配(Impedance)等，在老化板的设计、质料选择、结构等思量上相对重大。蔚思博检测是现在唯一可以提供老化板设计制作一条龙服务的公司，在思量本钱下，凭证产品规格可选择适当之万用板(Universal Board)，制作小板DUT Card解决，或者凭证本钱思量设计专板等。别的，9888拉斯维加斯蔚思博检测也是唯逐一家能够提供RF硬件设计与试验的第三方实验室。
2.样品水平
可靠度寿命试验的抽样方法接纳最低允收水平LTPD(Lot Tolerance Percent Defective)，信心水平(Confidence Level)一样平常使用90%。样品数的选择与信心水平均影响到寿命的预估值，必需很是注重。
? 服务优势
CTI9888拉斯维加斯检测在芯片寿命试验，拥有在半导体制程与应用领域具有多年履历的专业职员，可凭证客户需求提供定制化服务。
现在已在上海张江、上海金桥、上海浦江、合肥、中国台湾新竹设立五泰半导体测试及剖析实验室，实验室总面积1万多平方米，搭建了完整的检测平台服务，具备CNAS、ISO9001、ISO17025、ISO27001、ANSI/ESD S20.20等资质。
? 服务流程
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